JerryRigEverything 实测苹果 iPhone Duo：反向弯折致内屏开裂
苹果 iPhone Duo 耐用性测试：反向弯折内屏开裂
摘要快讯
科技博主 JerryRigEverything 在 YouTube 发布苹果折叠新机 iPhone Duo 耐用性测试，开售第二天进行。外屏第二代超瓷晶面板抗刮表现获好评，内屏纳米纹理磨砂处理抗刮水平仍与三星 Galaxy Z Fold 8 普通版相近易留划痕；灰尘经多个入口进入铰链破坏了固定磁铁；将手机完全展开后反复反向掰折，中框形变导致 7.6 英寸主屏开裂。博主提醒勿坐到展开状态的机身上。
推荐理由
JerryRigEverything 对苹果折叠新机的实测揭示内屏易刮和反向弯折开裂风险，对折叠屏保护配件开发有直接参考价值。
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来源：IT之家 · ithome.com