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OFweek · 电子工程与元器件·· 27 天前精选AI 评分70

海康睿影发布高精度半导体封装3D AXI检测设备,检测精度达亚微米级

海康睿影发布高精度半导体封装3D AXI检测设备:亚微米级精度,智检芯片内部微缺陷

摘要快讯

海康睿影在2026中国工博会发布高精度半导体封装3D AXI检测设备,搭载观澜X-ray工业无损检测大模型,自动判读BGA焊接、凸点、引线键合等缺陷,检测精度达亚微米级。设备160kV射线源实现小于1微米细节分辨率,12s完成360°扫描,大模型使算法训练数据需求降低90%,部分成熟场景仅需3至5张样本即可上线。

推荐理由

海康睿影在工博会发布面向先进封装的3D AXI检测设备,其检测能力外溢到3C数码质检场景,属供应链装备端变化信号。

目前仅收录标题与摘要。详细参数、价格和实测信息,请查看原文。

来源:OFweek · 电子工程与元器件 · ee.ofweek.com