Cascode SiC JFET在LLC拓扑中的应用详解：硬件实测与验证
详解 Cascode SiC JFET 在 LLC 拓扑中的应用：硬件实测与验证
摘要快讯
文章基于无负载半桥谐振测试平台，实测Cascode SiC JFET（型号NTBT023N075CJ4，TOLT封装）在LLC变换器初级侧的表现，在400V直流输入、990kHz开关频率、75ns死区时间下验证ZVS可维持充足裕量，实测关断dv/dt为31.4V/ns。
推荐理由
文章提供Cascode SiC JFET在LLC拓扑下的实测损耗与dv/dt数据，可作为高压高频电源器件选型的技术参考。
目前仅收录标题与摘要。详细参数、价格和实测信息，请查看原文。
来源：OFweek · 电子工程与元器件 · ee.ofweek.com